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| 試験部門 | ![]() |
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| 信頼性試験の代行、解析業務受託 当社では、半導体メーカと共に開発途中 におけるデバイスの信頼性テスト支援、 およびテスト環境の提供を行っています。 |
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| ■ 環境試験
半田耐熱性試験 半田付け性試験 熱衝撃試験 温度サイクル試験 温湿度サイクル試験 プレッシャークッカー試験 静電気破壊試験 |
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| 環境試験槽 | ||||||||||
| ■ 耐久性試験
高温動作試験 低温動作試験 高温高湿動作試験 高温バイアス試験 高温高湿バイアス試験 高温放置試験 高温高湿放置試験 低温放置試験 |
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| 半導体部品の検査業務受託 当社では、各種半導体デバイスの検査 業務を代行しております。 |
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| ■ 検査業務 電気特性検査 外観検査 バーンイン試験 |
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| 検査業務 | ||||||||||
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